鍍層測(cè)厚儀
儀器介紹:
JT-607C鍍層測(cè)厚儀是一款設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)緊湊,模塊精密化程度極高的鍍層測(cè)厚儀,C型開槽設(shè)計(jì)樣品腔,讓其滿足了既可測(cè)量超微小樣品的檢測(cè),同時(shí)還可滿足超過(guò)樣品腔尺寸的大工件測(cè)量。被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。是一款擁有多種準(zhǔn)直器(0.05mm、0.1mm、0.2mm、0.5mm)自動(dòng)切換的高精密度X射線熒光光譜測(cè)厚儀。適合小面積電鍍層、重復(fù)鍍層、凹凸不平樣品測(cè)試。
儀器特點(diǎn):
1)搭載微聚焦加強(qiáng)型X射線發(fā)生器和先進(jìn)的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng),可測(cè)量各微小的部件
最小測(cè)量面積達(dá)0. 002mm2
2) 擁有無(wú)損變焦檢測(cè)技術(shù),手動(dòng)變焦功能,可對(duì)各種異形凹槽件進(jìn)行無(wú)損檢測(cè),凹槽深度范圍0-90mm
3) 核心EFP算法,可對(duì)多層元素,包括同種元素在不同層都可快·準(zhǔn)·穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析(釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,精準(zhǔn)檢測(cè)第一層Ni和第三層Ni的厚度)
4) 配備高精密微型移動(dòng)滑軌,可實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)位,多樣品的精準(zhǔn)位移和同時(shí)檢測(cè)
5) 可同時(shí)分析23個(gè)鍍層,24中元素,測(cè)量元素范圍:氯CL (17) ---鈾U (92),涂鍍層分析范圍:氯CL (17)/鋰Li---鈾U (92),涂鍍層最低檢出限:0.005μm
6) 人性化封閉軟件,自動(dòng)判斷故障提示校正及操作步驟,避免誤操作
7) 標(biāo)配為兩個(gè)準(zhǔn)直器任意選擇一種,最小測(cè)量面積可達(dá)0.002mm2
8) 配有微光聚焦技術(shù),最近測(cè)距光斑擴(kuò)散度小于10%
相關(guān)產(chǎn)品:
二次元影像儀 2.5次元影像儀 一鍵式測(cè)量?jī)x 玻璃測(cè)厚儀 光譜儀